產品分類
顯微測量儀
相關文章
SuperView WX 100白光干涉測頭是一款非接觸式精密光學測頭,其基于白光干涉和精密掃描研制而成,主要由光學干涉系統和Z向掃描系統組成,具有體積小、重量輕、便攜的特點,能夠方便地搭載在各種具備XY水平位移架構的平臺上,在產線上對器件表面進行自動化形式的測量,直接獲取與表面質量相關的粗糙度、輪廓尺寸等2D/3D參數。
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息
電話
在線交流
微信掃一掃
返回頂部