NS系列材料臺階高度測量儀采用了線性可變差動電容傳感器LVDC,具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率,同時,其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術,使得儀器具備超高的測量精度和測量重復性。
中圖臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析,標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統,能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現微觀的形貌和元素分析等。
SuperViewW系列白光干涉儀三維表面測量系統以白光干涉技術為原理結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。
VT6000國產共聚焦3D材料測量顯微鏡以共聚焦技術為原理,在相同物鏡放大的條件下,所展示的圖像形態細節更清晰更微細,橫向分辨率更高,能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。
NS系列納米級2D臺階高度測量儀采用LVDC電容傳感器,具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點,其集成了超低噪聲信號采集、超精細運動控制、標定算法等核心技術,使得儀器具備超高的測量精度和測量重復性。
CEM3000大樣品倉臺式掃描電鏡用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析,臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統,這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實時呈現所得結果。
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