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上新!微納測量CP200臺階儀上市!

更新時間:2022-11-22      點擊次數:656

臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器,可以對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。臺階儀對測量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒有特別要求,樣品適應面廣,數據復現性高、測量穩定、便捷、高效,是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段。長期以來,此類儀器被歐美廠商壟斷,國內尚無廠商可提供同類產品,鑒于此,我司開發出了具有自主知識產權的臺階儀。






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臺階儀廣泛應用于:大學、研究實驗室和研究所、半導體和化合物半導體、高亮度LED、太陽能、MEMS微機電、觸摸屏、汽車、醫療設備等行業領域。

CP200臺階儀顯著特性:

1.出色的重復性和再現性,滿足被測件測量精度要求

線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13um量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。

2.超微力恒力傳感器:(1-50)mg可調

測力恒定可調,以適應硬質或軟質材料表面。超低慣量設計和微小電磁力控制,實現無接觸損傷的精準接觸式測量。

3.超平掃描平臺

系統配有超高直線度導軌,杜絕運動中的細微抖動,提高掃描精度,真實反映工件微小形貌。

4.頂視光學導航系統,5MP超高分辨率彩色相機

5.全自動XY載物臺, Z軸自動升降、360°全自動θ轉臺

6.強大的數據采集和分析系統

臺階儀軟件包含多個模塊,為對不同被測件的高度測量及分析評價提供充分支持。

CP200臺階儀典型應用:

光刻膠臺階高曲線測量


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